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Accesorio de pulido de precisión para muestra de 50 mm de diámetro
El controlador de pulido y esmerilado de precisión GPC-50A (controlador de lapeado para abreviar) se utiliza principalmente para controlar la planitud y el paralelismo de la superficie de la muestra, de modo que la muestra pulida tenga una alta precisión dimensional y una excelente condición de la superficie. Es principalmente adecuado para usar en la máquina pulidora y esmeriladora UNIPOL-802. El controlador de pulido y esmerilado de precisión GPC-50A es una herramienta de precisión indispensable para esmerilar y pulir piezas de trabajo, especialmente adecuada para muestras de rodajas finas de tamaño pequeño con requisitos de alta calidad de superficie.
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Accesorio de pulido de precisión para muestra de 80 mm de diámetro
El controlador de pulido y esmerilado de precisión GPC-80A (controlador de lapeado para abreviar) se utiliza principalmente para controlar la planitud y el paralelismo de la superficie de la muestra, de modo que la muestra pulida tenga una alta precisión dimensional y una excelente condición de la superficie. Es principalmente adecuado para su uso en máquinas rectificadoras y pulidoras UNIPOL-1202 y UNIPOL-802. Está especialmente indicado para el desbaste y pulido de láminas geológicas finas.
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Accesorio de pulido de precisión para muestra de 100 mm de diámetro
El controlador de pulido y esmerilado de precisión GPC-100A (controlador de lapeado para abreviar) se utiliza principalmente para controlar la planitud y el paralelismo de la superficie de la muestra, de modo que la muestra pulida tenga una alta precisión dimensional y una excelente condición de la superficie. Es principalmente adecuado para usar en UNIPOL -1202 y UNIPOL-1502 rectificadoras y pulidoras.
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Pulidora de precisión X en 1
La pulidora de precisión UNIPOL-1503 X en 1 está equipada con tres estaciones de trabajo. Es una máquina pulidora y rectificadora de escritorio que puede pulir y pulir muestras de gran tamaño. Es adecuado para moler y pulir muestras de cristales, cerámicas, metales, vidrio, muestras de rocas, muestras de minerales, placas PCB y materiales ópticos infrarrojos.
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